Pat
J-GLOBAL ID：201303009180743940
撮像装置および画像処理方法
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
,
Agent (6)：
世良 和信
, 川口 嘉之
, 和久田 純一
, 坂井 浩一郎
, 中村 剛
, 丹羽 武司
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2011248717
Publication number (International publication number)：2013102951
Application date： Nov. 14, 2011
Publication date： May. 30, 2013
Summary：
【課題】位相イメージングにおいて、ノイズが低減された高品位の位相像あるいは微分位相像を生成可能な技術を提供する。【解決手段】干渉パターンのデータからx方向とy方向の微分位相データを抽出し、抽出されたx方向の微分位相データをx方向に関して微分しx方向の二階微分位相データを算出し、y方向の微分位相データをy方向に関して微分しy方向の二階微分位相データを算出する。そして、x方向とy方向の二階微分位相データを関数として含む二階微分方程式を解くことによって、被検体の位相像のデータを算出する。【選択図】図6
Claim (excerpt)：
シアリング干渉計により得られる干渉パターンに基づいて位相像のデータを生成する撮像装置であって、
被検体を透過した電磁波により形成された干渉パターンのデータから、第1の方向に関する位相の変化を表す第1の微分位相データと、前記第1の方向に交差する第2の方向に関する位相の変化を表す第2の微分位相データとを抽出する微分位相データ抽出手段と、
抽出された前記第1の微分位相データを前記第1の方向に関して微分することによって第1の二階微分位相データを算出すると共に、抽出された前記第2の微分位相データを前記第2の方向に関して微分することによって第2の二階微分位相データを算出する二階微分位相データ算出手段と、
前記第1および第2の二階微分位相データを関数として含む二階微分方程式を解くことによって、前記被検体の位相像のデータを算出する位相データ算出手段と、
を有することを特徴とする撮像装置。
IPC (1)：
FI (1)：
F-Term (15)：
2G001AA01
, 2G001BA11
, 2G001BA18
, 2G001CA01
, 2G001GA01
, 2G001HA07
, 2G001LA01
, 4C093AA07
, 4C093AA14
, 4C093CA06
, 4C093CA13
, 4C093EB22
, 4C093EB30
, 4C093FD11
, 4C093FF41
Cited by applicant (1)
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X線撮像装置およびX線撮像方法
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2010-256311
Applicant：キヤノン株式会社
Article cited by the Patent：
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