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J-GLOBAL ID：201303015171217631

塑性ひずみの評価システムおよび評価方法

Inventor： 王 ユウ ,  石橋 良 ,  金田 潤也 ,  丸野 祐策 ,  越石 正人
Applicant, Patent owner： 日立GEニュークリア・エナジー株式会社
Agent (1)： ポレール特許業務法人
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2011224130
Publication number (International publication number)：2013083574
Application date： Oct. 11, 2011
Publication date： May. 09, 2013
Summary：

【課題】測定対象物の表面の塑性ひずみを非破壊的に評価することが可能なシステムおよび方法を提供する。【解決手段】測定対象物の表面にX線を入射し、X線の回折角と回折強度を計測するX線回折装置と、X線の回折角と回折強度からX線回折強度曲線を得るとともに、測定対象物の試験片を用いて予め求めた、X線回折強度曲線の半価幅と塑性ひずみとの関係、およびX線回折強度曲線の積分幅と塑性ひずみとの関係のうち、少なくともいずれか1つの関係についてのデータを有する画像解析装置とを備える。画像解析装置は、X線回折装置で得た測定対象物のX線回折強度曲線の半価幅および積分幅のうち、少なくともいずれか1つの値と、この値と塑性ひずみとの関係を表すデータとから、測定対象物の塑性ひずみを求める。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

測定対象物の表面にX線を入射し、前記X線の回折角と回折強度を計測するX線回折装置と、 前記X線の回折角と回折強度からX線回折強度曲線を得るとともに、前記測定対象物の試験片を用いて予め求めた、前記X線回折強度曲線の半価幅と塑性ひずみとの関係、および前記X線回折強度曲線の積分幅と塑性ひずみとの関係のうち、少なくともいずれか1つの関係についてのデータを有する画像解析装置とを備え、 前記画像解析装置は、前記X線回折装置で得た前記測定対象物のX線回折強度曲線の半価幅および積分幅のうち、少なくともいずれか1つの値と、この値と塑性ひずみとの関係を表す前記データとから、前記測定対象物の塑性ひずみを求める、 ことを特徴とする塑性ひずみ評価システム。

IPC (1)：

G01N 23/207

FI (1)：

G01N23/207

F-Term (8)：

2G001AA01 ,  2G001BA18 ,  2G001CA01 ,  2G001DA09 ,  2G001GA13 ,  2G001KA03 ,  2G001KA07 ,  2G001LA02