Pat
J-GLOBAL ID:201303016760902804

皮膚カテプシンの分析方法、皮膚の光ストレスの判定方法およびそのためのキット

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (7): 深見 久郎 ,  森田 俊雄 ,  仲村 義平 ,  堀井 豊 ,  野田 久登 ,  酒井 將行 ,  荒川 伸夫
Gazette classification:特許公報
Application number (International application number):2008053577
Publication number (International publication number):2009210411
Patent number:5234453
Application date: Mar. 04, 2008
Publication date: Sep. 17, 2009
Claim (excerpt):
【請求項1】 皮膚から採取した試料中に含まれる皮膚カテプシンおよび総タンパク質を測定し、総タンパク質に対する皮膚カテプシンの比から、皮膚の光ストレスを判定する方法であって、 局在プラズモン共鳴を用いたイムノクロマトグラフィによって皮膚カテプシンを測定する、方法。
IPC (3):
G01N 33/573 ( 200 6.01) ,  G01N 33/543 ( 200 6.01) ,  G01N 33/553 ( 200 6.01)
FI (4):
G01N 33/573 A ,  G01N 33/543 521 ,  G01N 33/543 595 ,  G01N 33/553
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
Show all
Article cited by the Patent:
Return to Previous Page