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J-GLOBAL ID：201303017950318528

はんだの組成分析方法

Inventor： 林 英男 ,  上本 道久
Applicant, Patent owner： 地方独立行政法人 東京都立産業技術研究センター
Agent (3)： 筒井 大和 ,  小塚 善高 ,  筒井 章子
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2008212839
Publication number (International publication number)：2010048659
Patent number：5140519
Application date： Aug. 21, 2008
Publication date： Mar. 04, 2010
Claim (excerpt)：

【請求項1】 鉛の含有量が0.1質量%以下のはんだの組成分析方法であって、 前記はんだを溶解する酸として、硫酸3.6mol/L以上13.4mol/L以下、硝酸1.3mol/L以上3.4mol/L以下の濃度であり、且つ硫酸と硝酸のモル比が2.6:1以上7.9:1以下である混酸を用い、前記はんだの組成成分を完全に溶解させた後、この組成成分を定量分析することを特徴とするはんだの組成分析方法。

IPC (4)：

G01N 21/73 ( 200 6.01) ,  G01N 21/31 ( 200 6.01) ,  G01N 27/62 ( 200 6.01) ,  G01N 1/28 ( 200 6.01)

FI (4)：

G01N 21/73 ,  G01N 21/31 610 Z ,  G01N 27/62 V ,  G01N 1/28 X

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

• すず-銀-銅はんだ合金の形成方法並びに当該合金を使用する鉛フリーバンプおよび半導体素子の製造方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-150620   Applicant：株式会社荏原製作所
• 電子部品材料の品質管理方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2003-058748   Applicant：株式会社東芝
• はんだ材料の分析方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2005-253014   Applicant：株式会社東芝

Article cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• ICP-AESによる鉛フリーはんだ中の添加及び不純物元素定量の試料前処理法の検討
• ICP発光分光分析による鉛フリーはんだの含有成分と不純物の定量