Pat
J-GLOBAL ID：201303018529992968
テラヘルツ波電子線分光測定方法および装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2008017631
Publication number (International publication number)：2009180535
Patent number：4925133
Application date： Jan. 29, 2008
Publication date： Aug. 13, 2009
Claim (excerpt)：
【請求項1】 マルチバンチの相対論的電子ビームが射出する長波長のコヒーレント放射を集光して試料に照射し、前記試料を透過した透過光もしくは前記試料で反射した反射光を再び集光して次ぎ以降の電子バンチと正面衝突するように制御した状態で、逆コンプトン散乱によって生じた散乱光のスペクトルを測定し、前記光のスペクトルに基づいてテラヘルツ帯付近の波長の吸収もしくは反射スペクトルを測定することを特徴とするテラヘルツ波電子線分光測定方法。
IPC (1)：
FI (1)：
Return to Previous Page
