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J-GLOBAL ID：201303022729641156

金属イオン検出方法

Inventor： 渡辺 宣朗 ,  和泉 充 ,  大貫 等
Applicant, Patent owner： 国立大学法人東京海洋大学
Agent (1)： 窪田 法明
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2006068314
Publication number (International publication number)：2007248076
Patent number：4914984
Application date： Mar. 13, 2006
Publication date： Sep. 27, 2007
Claim (excerpt)：

【請求項1】 鎖脂肪酸からなる分子層と、長鎖アルキル基を持たないテトラチアフルバレン誘導体からなる分子層との積層構造を有するラングミュア・プロジェット膜を用い、該ラングミュア・プロジェット膜が反応する金属イオン種により特徴的に示される光吸収スペクトルを計測することを特徴とする金属イオン検出方法。

IPC (3)：

G01N 21/75 ( 200 6.01) ,  G01N 21/27 ( 200 6.01) ,  G01N 31/00 ( 200 6.01)

FI (3)：

G01N 21/75 Z ,  G01N 21/27 Z ,  G01N 31/00 S