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J-GLOBAL ID:201303027907783492
帯状構造検出装置及び方法並びにプログラム
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2011282187
Publication number (International publication number):2013131174
Application date: Dec. 22, 2011
Publication date: Jul. 04, 2013
Summary:
【課題】計算量を増大させることなく、帯状構造以外の模様に影響されずに、影や欠損が存在する様々な向きの帯状構造を検出する。【解決手段】入力画像の複数の探索位置において、探索位置を中心とし、所定の帯幅以下の直径を有する内円の周上にある複数の第1の判別位置、および、探索位置を中心とし、帯幅より大きい直径を有する外円の周上にある複数の第2の判別位置における画像特徴が帯状構造の画像特徴と同じもしくは類似するかを判別し、第1の判別位置の画像特徴が帯状構造の画像特徴と同じもしくは類似すると判別され、かつ、第2の判別位置のうち帯状構造の画像特徴と同じでも類似でもない位置からなる連続領域が、内円を挟んで対向するように存在する場合、探索位置を帯状構造候補点として検出する帯状構造候補検出手段5と、帯状構造候補点群に対して線をフィッティングすることによって帯状構造を検出する帯状構造検出手段6とを設けた。【選択図】図2
Claim (excerpt):
入力画像から所定の幅の帯状構造を検出する装置であって、
前記入力画像の複数の探索位置において、前記探索位置を中心とし、前記所定の幅以下の直径を有する内円の周上または前記内円の内部にある複数の第1の判別位置、および、前記探索位置を中心とし、前記所定の幅より大きい直径を有する外円の周上、または、前記外円と前記内円の円周間の領域にある複数の第2の判別位置における画像特徴が前記帯状構造の画像特徴と同じもしくは類似するかを判別し、
前記第1の判別位置の画像特徴が前記帯状構造の画像特徴と同じもしくは類似すると判別され、かつ、前記第2の判別位置のうち前記帯状構造の画像特徴と同じでも類似でもない位置からなる連続領域が、前記内円を挟んで対向するように存在する場合、前記探索位置を帯状構造候補点として検出する帯状構造候補検出手段と、
前記帯状構造候補点群に対して線をフィッティングすることによって前記帯状構造を検出する帯状構造検出手段と、
を備えたことを特徴とする帯状構造検出装置。
IPC (2):
FI (2):
G06T7/60 200J
, G08G1/16 C
F-Term (16):
5H181AA01
, 5H181CC04
, 5H181LL02
, 5L096BA02
, 5L096BA04
, 5L096CA04
, 5L096DA01
, 5L096EA06
, 5L096FA03
, 5L096FA06
, 5L096FA14
, 5L096FA24
, 5L096FA37
, 5L096FA67
, 5L096FA76
, 5L096GA55
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