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J-GLOBAL ID：201303032952776417

原子または分子の同定方法

Inventor： 新井 豊子 ,  富取 正彦
Applicant, Patent owner： 国立大学法人北陸先端科学技術大学院大学
Agent (1)： 西教 圭一郎
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2010008513
Publication number (International publication number)：2010096771
Patent number：4822563
Application date： Jan. 18, 2010
Publication date： Apr. 30, 2010
Claim (excerpt)：

【請求項1】 (a)予め定める基準となる第1試料を用いて、探針と第1試料表面との間の距離を、約1nm以下に近接した状態で、 探針と第1試料との間に直流電圧を変化しつつ印加し、 探針と第1試料との間に作用する化学結合による引力を、印加電圧に対応して検出し、 探針とその探針に対向する第1試料との間の前記印加電圧に対応する前記引力のピーク値が得られる第1の印加電圧を検出して第1検出結果を得、 (b)同定すべき原子または分子を含む第2試料を用いて、第1検出結果を得たときに用いられる同一の探針と第2試料表面との間の距離を、約1nm以下に近接した状態で、 探針と第2試料との間に直流電圧を変化しつつ印加し、 探針と第2試料との間に作用する化学結合による引力を、印加電圧に対応して検出し、 探針とその探針に対向する第2試料との間の前記印加電圧に対応する前記引力のピーク値が得られる第2の印加電圧を検出して第2検出結果を得、 (c)第1検出結果と第2検出結果とを比較して第2試料の原子または分子を同定することを特徴とする原子または分子の同定方法。

IPC (3)：

G01Q 60/24 ( 201 0.01) ,  G01Q 60/40 ( 201 0.01) ,  G01Q 90/00 ( 201 0.01)

FI (3)：

G01Q 60/24 ,  G01Q 60/40 ,  G01Q 90/00