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J-GLOBAL ID:201303047706768470
電磁界計測システム
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (7):
河野 哲
, 中村 誠
, 蔵田 昌俊
, 峰 隆司
, 福原 淑弘
, 村松 貞男
, 橋本 良郎
Gazette classification:特許公報
Application number (International application number):2006289985
Publication number (International publication number):2008107197
Patent number:4915565
Application date: Oct. 25, 2006
Publication date: May. 08, 2008
Claim (excerpt):
【請求項1】電波源により形成される電磁界に設置される誘電体プローブと、
前記誘電体プローブが前記電磁界に設置されることで当該誘電体プローブから再放射される二次放射波を受信する受信部と、
この受信された二次放射波を解析して前記電磁界の前記誘電体プローブ近傍における局所分布を算出する解析処理部とを具備することを特徴とする電磁界計測システム。
IPC (1):
FI (1):
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