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J-GLOBAL ID：201303052058503639

誘導型交流電位を用いた非破壊検査装置

Inventor： 庄子 哲雄 ,  佐藤 康元 ,  渥美 健夫
Applicant, Patent owner： 国立大学法人東北大学
Agent (5)： 重信 和男 ,  加古 進 ,  清水 英雄 ,  高木 祐一 ,  中野 佳直
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2006131432
Publication number (International publication number)：2007303919
Patent number：4752065
Application date： May. 10, 2006
Publication date： Nov. 22, 2007
Claim (excerpt)：

【請求項1】測定対象の管状試験体の軸方向に対して斜めに巻き線されたコイルと、 互いに90度になるように設置され、前記試験体内面の該軸方向及び周方向に誘起されたそれぞれの電位差を測定するための2組の2本の端子と、 前記コイルに交流電流を印加するための交流電源と、 前記コイルに印加された交流により誘起された、前記2組の2本の端子間の電位差を、軸方向及び周方向に計測するための計測器と を備え、前記試験体の内面を走査して電位差を計測することで、き裂を検出することを特徴とする非破壊検査装置。

IPC (2)：

G01N 27/20 ( 200 6.01) ,  G01N 27/90 ( 200 6.01)

FI (2)：

G01N 27/20 A ,  G01N 27/90