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J-GLOBAL ID：201303053492872835
加速器によるパルスビーム陽電子寿命計測方法および装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2012102995
Publication number (International publication number)：2013231640
Application date： Apr. 27, 2012
Publication date： Nov. 14, 2013
Summary：
【課題】従来の陽電子寿命測定法では、陽電子発生タイミングの正確な把握が困難で常に測定回路を動作させる必要があり、バックグラウンド放射線の影響を避けられないため、加速器で発生したパルス陽電子ビームを、蓄積やストレッチングなどの陽電子の照射時間を拡げるための制御を行うことなく、そのままの状態で測定部へ導くことを特徴とする陽電子寿命測定法を提供する。【解決手段】測定対象の試料から得られる陽電子消滅ガンマ線の検出信号の処理方法として、ガンマ線信号を個別にアナログ処理するのではなく、加速器のビーム発生タイミング用の主パルス信号を測定開始のトリガー信号に使って、波形記憶回路で加速器生成パルス一個分に対応する信号波形を基準信号とともに一括して収集し、収集後に基準信号との時間差を計算機上で演算処理して、一組の陽電子消滅ガンマ線信号波形から複数の陽電子消滅時間値を得る。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
加速器と陽電子ビームラインを備えた陽電子寿命測定装置において陽電子消滅時間値を計測する陽電子寿命測定方法であって、
前記陽電子ビームラインは少なくとも陽電子発生部、パルス発生部、チョッパー、バンチャー、検出器、波形記憶回路部と波形演算部を備えて、
バンチャーの後方に試料を配置し、
加速器において主パルス信号に基づいて電子ビームの発生を制御し、
陽電子発生部において前記制御されて発生したパルス電子ビームをパルス陽電子ビームに変換し、
パルス発生部においてチョッパー信号を発生させ、
チョッパーにおいて前記チョッパー信号で前記パルス陽電子ビームを一定時間間隔にチョップし、
前記一定時間間隔でチョップされたパルス陽電子ビームと前記試料の電子とを対消滅させて陽電子消滅ガンマ線を発生させ、
検出器において前記発生した陽電子消滅ガンマ線を検出し、
波形記憶回路部において前記検出した陽電子消滅ガンマ線信号と前記チョッパー信号とを記憶し、
波形演算部において前記記憶された前記一定時間間隔における前記チョッパー信号と陽電子消滅ガンマ線信号のピーク間の時間差から当該試料の陽電子寿命スペクトルを生成する陽電子寿命測定方法において、
前記加速器の前記主パルス信号を前記陽電子消滅ガンマ線測定開始用のトリガー信号として測定を開始して前記波形記憶回路部において前記チョップされた一定時間間隔で発生した複数の陽電子から生ずる陽電子消滅ガンマ線信号を前記加速器で発生する1パルス分の陽電子が前記試料と対消滅する時間一括して収集することを特徴とする陽電子寿命測定方法。
IPC (2)：
FI (2)：
F-Term (5)：
2G001AA08
, 2G001BA01
, 2G001CA02
, 2G001GA03
, 2G001KA20
