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J-GLOBAL ID：201303060085014677

3次元形状計測装置およびキャリブレーション方法

Inventor： 庄 沱 ,  小島 岳史 ,  大西 康裕
Applicant, Patent owner： オムロン株式会社
Agent (3)： 世良 和信 ,  和久田 純一 ,  中村 剛
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2012021835
Publication number (International publication number)：2013160596
Application date： Feb. 03, 2012
Publication date： Aug. 19, 2013
Summary：

【課題】照明装置の端部付近に対応する傾きを有する表面であっても、精度良くその向きを計測する3次元形状計測装置を提供する。【解決手段】反射特性が未知の計測対象物4の表面形状を測定する3次元形状計測装置であって、所定の照明パタンで前記計測対象物4に光を照射する照明手段3と、前記計測対象物4を撮像する撮像手段1と、複数の反射特性および複数の法線方向の組合せについて、当該反射特性および法線方向を有する表面に対して前記照明パタンの光を照射したときの前記表面からの反射光に関する特徴量を記憶する参照テーブルと、前記撮像手段1によって撮像された画像から前記計測対象物4の各位置における前記特徴量を算出する特徴量算出手段と、前記特徴量算出手段によって算出された前記特徴量と、前記参照テーブルとに基づいて、前記計測対象物4の各位置における表面の法線方向を求める形状算出手段と、を有する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

反射特性が未知の計測対象物の表面形状を測定する3次元形状計測装置であって、 所定の照明パタンで前記計測対象物に光を照射する照明手段と、 前記計測対象物を撮像する撮像手段と、 複数の反射特性および複数の法線方向の組合せについて、当該反射特性および法線方向を有する表面に対して前記照明パタンの光を照射したときの前記表面からの反射光に関する特徴量を記憶する参照テーブルと、 前記撮像手段によって撮像された画像から前記計測対象物の各位置における前記特徴量を算出する特徴量算出手段と、 前記特徴量算出手段によって算出された前記特徴量と、前記参照テーブルとに基づいて、前記計測対象物の各位置における表面の法線方向を求める形状算出手段と、 を有する3次元形状計測装置。

IPC (1)：

G01B 11/25

FI (1)：

G01B11/25 H

F-Term (12)：

2F065AA35 ,  2F065AA53 ,  2F065FF04 ,  2F065FF44 ,  2F065GG11 ,  2F065GG21 ,  2F065HH07 ,  2F065JJ19 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ31 ,  2F065RR06