Pat
J-GLOBAL ID:201303067177366043
酸化物半導体薄膜
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (3):
渡辺 喜平
, 田中 有子
, 佐藤 猛
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2013041366
Publication number (International publication number):2013225664
Application date: Mar. 04, 2013
Publication date: Oct. 31, 2013
Summary:
【課題】CVD成膜時に優れた耐還元性を有する酸化物半導体薄膜を提供する。【解決手段】インジウム、亜鉛、スズ及びガリウムから選択される2種以上の金属元素と、酸素元素と、を含有する酸化物半導体薄膜であって、この薄膜の表面に、リン酸塩、ケイ酸塩及びホウ酸塩から選択される1種類以上の塩を含む皮膜を有する、酸化物半導体薄膜。【選択図】なし
Claim (excerpt):
インジウム、亜鉛、スズ及びガリウムから選択される2種以上の金属元素と、酸素元素と、を含有する酸化物半導体薄膜であって、
前記薄膜の表面に、リン酸塩、ケイ酸塩及びホウ酸塩から選択される1種類以上の塩を含む皮膜を有する、酸化物半導体薄膜。
IPC (3):
H01L 21/363
, H01L 29/786
, H01L 21/336
FI (3):
H01L21/363
, H01L29/78 618B
, H01L29/78 619A
F-Term (70):
5F103AA08
, 5F103BB22
, 5F103DD30
, 5F103GG03
, 5F103HH04
, 5F103LL13
, 5F103NN05
, 5F103PP03
, 5F103PP15
, 5F103PP20
, 5F103RR05
, 5F110AA26
, 5F110BB01
, 5F110BB09
, 5F110BB10
, 5F110CC07
, 5F110DD01
, 5F110DD02
, 5F110DD03
, 5F110DD05
, 5F110EE02
, 5F110EE03
, 5F110EE04
, 5F110EE06
, 5F110EE07
, 5F110EE08
, 5F110EE14
, 5F110FF01
, 5F110FF02
, 5F110FF03
, 5F110FF09
, 5F110FF23
, 5F110FF27
, 5F110FF28
, 5F110FF29
, 5F110FF30
, 5F110GG01
, 5F110GG06
, 5F110GG25
, 5F110GG28
, 5F110GG29
, 5F110GG43
, 5F110HK01
, 5F110HK02
, 5F110HK03
, 5F110HK04
, 5F110HK06
, 5F110HK07
, 5F110HK21
, 5F110HK41
, 5F110HL01
, 5F110HL02
, 5F110HL03
, 5F110HL04
, 5F110HL06
, 5F110HL07
, 5F110HL11
, 5F110HL26
, 5F110NN03
, 5F110NN04
, 5F110NN22
, 5F110NN23
, 5F110NN24
, 5F110NN27
, 5F110NN33
, 5F110NN34
, 5F110NN35
, 5F110NN36
, 5F110NN40
, 5F110NN43
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