塗布状態測定方法

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (4)：長谷川芳樹 , 黒木義樹 , 近藤伊知良 , 柴田昌聰
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2011185193
Publication number (International publication number)：2013044729
Application date： Aug. 26, 2011
Publication date： Mar. 04, 2013
Summary：

【課題】測定対象物に塗布された塗布物質の塗布状態をより簡単に精度よく測定する。【解決手段】測定対象物を撮像して測定対象物のスペクトル画像を取得する画像取得ステップS01と、画像取得ステップにより得られたスペクトル画像に基づいて、塗布物質の種類を判別する塗布物判別ステップS02と、画像取得ステップにより得られた前記スペクトル画像に基づいて、塗布物質の塗布量を測定する塗布量測定ステップS03と、を備える。【選択図】図6

Claim (excerpt)：

測定対象物に塗布された塗布物質の塗布状態を測定する方法であって、前記測定対象物を撮像して前記測定対象物のスペクトル画像を取得する画像取得ステップと、前記画像取得ステップにより得られた前記スペクトル画像に基づいて、前記塗布物質の種類を判別する塗布物判別ステップと、前記画像取得ステップにより得られた前記スペクトル画像に基づいて、前記塗布物質の塗布量を測定する塗布量測定ステップと、を備えることを特徴とする塗布状態測定方法。

IPC (5)：

G01N 21/27 , G01N 21/35 , G01B 11/06 , G01G 17/04 , B05D 3/00

FI (5)：

G01N21/27 B , G01N21/35 Z , G01B11/06 H , G01G17/04 D , B05D3/00 D

F-Term (43)：

2F065AA30 , 2F065BB13 , 2F065CC17 , 2F065CC31 , 2F065DD03 , 2F065FF46 , 2F065GG02 , 2F065GG21 , 2F065GG25 , 2F065HH05 , 2F065JJ03 , 2F065JJ26 , 2F065LL02 , 2F065LL08 , 2F065LL23 , 2F065LL53 , 2F065LL62 , 2F065LL67 , 2F065PP15 , 2F065QQ41 , 2F065RR06 , 2G059AA02 , 2G059AA05 , 2G059BB10 , 2G059BB15 , 2G059DD12 , 2G059DD13 , 2G059EE02 , 2G059EE12 , 2G059HH01 , 2G059HH06 , 2G059JJ02 , 2G059JJ17 , 2G059KK03 , 2G059MM09 , 2G059MM10 , 4D075BB92Z , 4D075DC24 , 4D075DC38 , 4D075EA05 , 4D075EA35 , 4D075EA45 , 4F042DH09

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

印刷物の識別法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-323309 Applicant：大蔵省印刷局長
金属表面上の有機塗膜の厚さ測定方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2005-353876 Applicant：三星電機株式会社
スペクトル計測装置及び計測方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2004-154589 Applicant：石川島播磨重工業株式会社

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