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J-GLOBAL ID:201303079260707411

計測デバイス

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 山田 卓二 ,  田中 光雄 ,  石野 正弘
Gazette classification:特許公報
Application number (International application number):2007070278
Publication number (International publication number):2008228866
Patent number:4963074
Application date: Mar. 19, 2007
Publication date: Oct. 02, 2008
Claim (excerpt):
【請求項1】 薄型基板と、 上記薄型基板の上に固定されたイメージセンサチップとからなる計測デバイスであり、 上記イメージセンサチップは、 入射光を検出する複数の画素セルを2次元状に配置した画素アレイと、 上記薄型基板上の金属配線とワイヤで接続するための接続パッドと、 上記画素アレイと上記接続パッドの間に接続される、上記画素アレイによるイメージ計測のための周辺回路と、 上記画素アレイを形成した領域の中に設けられ、上記画素セルが配置された第1面からその反対側の第2面まで上記イメージセンサチップを貫通している1以上の貫通孔と を備える計測デバイスであって、 上記貫通孔は、化学物質が通過可能な物理的貫通孔であり、 上記計測デバイスはさらに、上記物理的貫通孔を介して化学物質を供給する注入経路を上記イメージセンサチップの第2面の裏面に備えることを特徴とする計測デバイス。
IPC (5):
A61B 10/00 ( 200 6.01) ,  G01N 21/64 ( 200 6.01) ,  H01L 27/146 ( 200 6.01) ,  A61B 1/00 ( 200 6.01) ,  A61B 1/04 ( 200 6.01)
FI (5):
A61B 10/00 E ,  G01N 21/64 F ,  H01L 27/14 A ,  A61B 1/00 300 D ,  A61B 1/04 372
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (5)
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Cited by examiner (5)
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