Pat

J-GLOBAL ID：201303080534061180

質量分析データ解析方法及び解析装置

Inventor： 森永 浩子 ,  梶原 茂樹
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 特許業務法人京都国際特許事務所
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2011176669
Publication number (International publication number)：2013040808
Application date： Aug. 12, 2011
Publication date： Feb. 28, 2013
Summary：

【課題】夾雑物等の影響により目的化合物由来のプリカーサイオンピークにほかのピークが重なっているような場合でも、MS2スペクトル上のピークの中から目的化合物由来のプロダクトイオンピークを的確に選出し化合物同定等に供する。【解決手段】取得したイメージングMS2データからピクセル(測定点位置)とm/zとを行及び列とし強度値を要素とするデータマトリクスを作成し、目的化合物由来のプリカーサイオンの空間強度分布と類似した空間強度分布を示すm/z値を基準ピークとして選出する。目的化合物由来のプロダクトイオンは基準ピークと類似した空間強度分布を示す筈であるから、上記データマトリクスにおいて基準ピークと他ピークとのデータの相関計数を計算する。順相関で大きな相関係数値を与えるピークがプロダクトイオンピークであると判断し、該ピークのm/z値を選出して組成解析や同定処理に供する。【選択図】図2

Claim (excerpt)：

試料上の2次元領域内に設定された複数の微小領域に対してそれぞれMSn(n≧2の整数)分析を実行することにより収集されたデータを解析処理する質量分析データ解析方法であって、 a)微小領域毎に得られるMSnスペクトルデータから強度値と質量電荷比とを含むピーク情報を収集するピーク情報収集ステップと、 b)各微小領域のピーク情報を集め、目的化合物由来である又は目的化合物由来であると推定されるピークの空間強度分布を基準とし他の各ピークの強度値を用いた統計的解析処理を行うことにより、前記目的化合物由来である又は目的化合物由来であると推定されるピークの空間強度分布と類似性の高い空間強度分布を示すピークを選出する統計的解析ステップと、 c)選出されたピークが目的化合物由来のプロダクトイオンによるピークであると判断し、該プロダクトイオンの少なくとも質量電荷比を利用して目的化合物の同定又は組成・構造解析を実施する化合物解析ステップと、 を有することを特徴とする質量分析データ解析方法。

IPC (1)：

G01N 27/62

FI (1)：

G01N27/62 D

F-Term (12)：

2G041CA01 ,  2G041DA04 ,  2G041EA01 ,  2G041EA13 ,  2G041FA12 ,  2G041GA06 ,  2G041GA08 ,  2G041GA10 ,  2G041KA01 ,  2G041LA09 ,  2G041MA01 ,  2G041MA04