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J-GLOBAL ID：201303088229987812

光学分析装置及び光学分析方法

Inventor： 梶原 淳志 ,  甲斐 慎一 ,  市村 功 ,  瀬川 雄司
Applicant, Patent owner： ソニー株式会社
Agent (1)： 渡邊 薫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2011169993
Publication number (International publication number)：2013033008
Application date： Aug. 03, 2011
Publication date： Feb. 14, 2013
Summary：

【課題】 検出精度が良好な光学分析装置を提供すること。【解決手段】 単数又は複数の光源から入射された光を反応領域のそれぞれに導光する導光板と、前記反応領域内からの光の出射方向を制限する遮光構造体と、前記励起光の照射により前記反応領域内から発生する光を検出する検出系とを、備える光学分析装置;単数又は複数の光源から照射された光が導光板にて反応領域のそれぞれに導光され、該反応領域内から発生する光を光の射出方向に制限する遮光構造体を経て検出系にて検出する光学分析方法。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

光源から入射された光を反応領域のそれぞれに導光する導光板と、 前記反応領域内からの光の出射方向を制限する遮光構造体と、 前記励起光の照射により前記反応領域内から発生する光を検出する検出系とを、 備える光学分析装置。

IPC (3)：

G01N 21/64 ,  G01N 21/78 ,  C12M 1/00

FI (4)：

G01N21/64 F ,  G01N21/64 Z ,  G01N21/78 C ,  C12M1/00 A

F-Term (42)：

2G043AA01 ,  2G043AA03 ,  2G043BA16 ,  2G043CA03 ,  2G043EA01 ,  2G043EA13 ,  2G043EA14 ,  2G043GA07 ,  2G043GB17 ,  2G043HA01 ,  2G043HA05 ,  2G043JA02 ,  2G043JA03 ,  2G043KA02 ,  2G043KA03 ,  2G043KA05 ,  2G043KA09 ,  2G043LA01 ,  2G043MA01 ,  2G054AA06 ,  2G054CA22 ,  2G054CA23 ,  2G054EA01 ,  2G054EA03 ,  2G054EA04 ,  2G054EA05 ,  2G054EB03 ,  2G054EB04 ,  2G054FA12 ,  2G054FA16 ,  2G054FA17 ,  2G054FA19 ,  2G054FA32 ,  2G054FA33 ,  2G054FA34 ,  2G054GA02 ,  2G054GA03 ,  2G054GA04 ,  2G054GA05 ,  4B029AA23 ,  4B029BB20 ,  4B029FA15