Pat
J-GLOBAL ID:201303091252403470

波長走査型光干渉断層計及びその位相安定化プログラム

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 光田 敦
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2012000313
Publication number (International publication number):2013140077
Application date: Jan. 05, 2012
Publication date: Jul. 18, 2013
Summary:
【課題】SS-OCTにおける光源の波長スキャンと、光検知器でスペクトル干渉信号としてデータを収集するタイミングとの間のジッターを高価で複雑なハードウェアを追加的に使用せず、位相を安定化させる。【解決手段】SS-OCTの波長走査型光源2から出射されて分割され、固定参照鏡8で反射された参照光と、被計測物体6で反射された物体光が重ねられて光検知器15で検出されたスペクトル干渉信号に基づき、断層画像を生成するコンピュータ16を、第1の補正手段で大まかに補正し、第2の補正手段でさらに詳細に補正させるように機能させて、SS-OCTの位相を安定化する。【選択図】図1
Claim (excerpt):
SS-OCTにおいて、波長走査型光源から出射されて分割され、固定参照鏡で反射された参照光と、被計測物体で反射された物体光とが重ねられて光検知器で検出されたスペクトル干渉信号に基づき、断層画像を生成するコンピュータを、スペクトル干渉信号の位相データを補正する補正手段として機能させるSS-OCTのスペクトル干渉信号の位相を安定化するプログラムであって、
IPC (3):
G01N 21/17 ,  A61B 3/12 ,  A61B 3/10
FI (3):
G01N21/17 625 ,  A61B3/12 E ,  A61B3/10 R
F-Term (12):
2G059AA05 ,  2G059AA06 ,  2G059BB12 ,  2G059EE02 ,  2G059FF02 ,  2G059GG01 ,  2G059GG09 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ30 ,  2G059KK01
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3) Cited by examiner (3)
Article cited by the Patent:
Cited by applicant (3) Cited by examiner (3)

Return to Previous Page