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J-GLOBAL ID：201303094230738460

位相測定用システムと方法

Inventor： クリストフアー・エム・フアング-イエン ,  ガブリール・ポペス ,  チヤングエイ・ヤング ,  アダム・ピー・ワツクス ,  ラマチヤンドラ・アール・ダサリ ,  マイケル・エス・フエルド
Applicant, Patent owner： マサチユセツツ・インスチチユート・オブ・テクノロジイ
Agent (1)： 特許業務法人小田島特許事務所
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2013077045
Publication number (International publication number)：2013152243
Application date： Apr. 02, 2013
Publication date： Aug. 08, 2013
Summary：

【課題】位相ノイズの問題に取り組む位相測定用システムを提供する。【解決手段】干渉計検査及び/又は位相測定の原理に基づくシステムを含み、細胞生理学を研究するため使われる。これらのシステムは位相を測定するために光学的干渉計を使う低コヒーレンス干渉計検査(LCI)又は細胞部分自身内の干渉が使われる光散乱スペクトロスコピー(LSS)の原理を含むか、又は代わりにLCI及びLSSの原理が組み合わされる。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

物質の位相画像化のための光変調システムに於いて、 物質に光学的に連結された光源と、 空間周波数を変調するように物質からの光を位相変調器に接続する光学装置と、 物質の位相画像を検出するように位相変調器からの光を受ける画像検出器と、 を具備することを特徴とするシステム。

IPC (1)：

G01N 21/17

FI (1)：

G01N21/17 630

F-Term (14)：

2G059BB14 ,  2G059EE09 ,  2G059EE11 ,  2G059GG01 ,  2G059GG02 ,  2G059GG03 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ07 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK01 ,  2G059KK03 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM09

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 顕微鏡
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-192665   Applicant：オリンパス光学工業株式会社