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J-GLOBAL ID:201401006813709992   Update date: Oct. 01, 2022

Nagasawa Hiroyuki

Nagasawa Hiroyuki
Research keywords  (3): Semiconductor Devices ,  Crystal Growth ,  SiC
MISC (16):
Lectures and oral presentations  (22):
  • Si(110)上3C-SiC(111)薄膜の結晶方位回転成長機構
    (第76回応用物理学会秋季学術講演会 2015)
  • Si(110)上3C-SiC(111)薄膜の結晶方位回転成長機構
    (第76回応用物理学会秋季学術講演会 2015)
  • SiCエピタキシャル成長技術と ポリタイプ積層
    (第45回結晶成長国内会議(NCCG-45) 2015)
  • SiCエピタキシャル成長技術と ポリタイプ積層
    (第45回結晶成長国内会議(NCCG-45) 2015)
  • What is 'Killer Defect' in 3C-SiC
    (IUMRS-ICA 2014)
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Professional career (1):
  • 工学博士 (東海大学)
Work history (1):
  • Tohoku University Research Institute of Electrical Communication Researcher
※ Researcher’s information displayed in J-GLOBAL is based on the information registered in researchmap. For details, see here.

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