Art

J-GLOBAL ID：201402200972646106   Reference number：14A1165237

Electric field sensing and imaging by noninvasive parallel-plate sensor

無侵襲的平行平板線さによる電場センシングおよびイメージング

Author (4)： TSUCHIYA Masahiro (Inst. of Information and Communications Technol.) ,  SHIOZAWA Takahiro (Dep. of Communication Network Engineering, National Inst. of Technol., Kagawa Coll.) ,  HARAKAWA Shinji (Hakuju Inst. for Health Sci. Co. Ltd.) ,  HARAKAWA Shinji (Obihiro Univ. of Agriculture and Veterinary Medicine)
Material： IEICE Electronics Express (Web)  (IEICE Electron Express (Web))
Volume： 11  Issue： 18  Page： 20140745-20140745 (J-STAGE)  Publication year： 2014 
JST Material Number： U0039A  ISSN： 1349-2543  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *electric field ,  nondestructive inspection ,  bioinstrumentation ,  *sensor ,  direction finding ,  *field intensity ,  ammeter ,  *data reading ,  short circuit fault ,  waveguide ,  *imaging ,  *measurement accuracy ,  space resolving power
Semi thesaurus term： electric field measurement ,  noninvasive measurement ,  optical readout ,  parallel plate waveguides

JST classification (1)： Measurement of electromagnetic quantities in general  (AD07010R)

Reference (15)：

• [1] For example, R. A. Millikan: Phys. Rev. 39 (1932) 397. DOI:10.1103/PhysRev.39.397
• [2] For example, S. G. Gathman and R. V. Anderson: Rev. Sci. Instrum. 36 (1965) 1490. Also references therein.DOI:10.1063/1.1719364
• [3] P. S. Maruvada, R. D. Dallaire and R. Pedneault: IEEE Trans. Power Apparatus Syst PAS-102 (1983) 738. DOI:10.1109/TPAS.1983.318035
• [4] H. I. Bassen and G. S. Smith: IEEE Trans. Antenn. Propag. AP-31 (1983) 710. DOI:10.1109/TAP.1983.1143126
• [5] T. P. Budka, S. D. Waclawik and G. M. Rebeiz: IEEE Trans. Microw. Theory Tech. 44 (1996) 2174. DOI:10.1109/22.556445

Terms in the title (5)： 無侵襲的 ,  平行平板 ,  電場 ,  センシング ,  イメージング