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J-GLOBAL ID：201402215342453404   Reference number：14A0317130

Direct Observation of Picosecond Lattice Deformation of Ge₂Sb₂Te₅ by X-ray Free-Electron Laser

X線自由電子レーザによるGe₂Sb₂Te₅のピコ秒格子変形の直接観測

Author (13)： TOKUDA Kazuya (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  KAWAGUCHI Tomoya (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  SAKAIDA Masashi (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  SATO Takahiro (RIKEN, Hyogo, JPN) ,  TOGASHI Tadashi (Japan Synchrotron Radiation Res. Inst., Hyogo, JPN) ,  OGAWA Kanade (RIKEN, Hyogo, JPN) ,  YABASHI Makina (RIKEN, Hyogo, JPN) ,  ICHITSUBO Tetsu (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  MATSUNAGA Toshiyuki (Panasonic, Osaka, JPN) ,  TANAKA Yoshihito (RIKEN, Hyogo, JPN) ,  NISHINO Yoshinori (Hokkaido Univ., Sapporo, JPN) ,  YAMADA Noboru (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  MATSUBARA Eiichiro (Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
Material： Proceedings of the Symposium on Phase Change Oriented Science  (PCOS)
Volume： 25th  Page： 10-13  Publication year： 2013 
JST Material Number： L1450A  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： pulsed laser ,  femtosecond ,  time dependence ,  *free electron laser ,  Bragg reflection ,  laser excitation ,  *X-ray diffraction ,  deformation ,  lattice ,  *X-ray laser ,  picosecond ,  *phase transition ,  pump-probe method ,  measurement ,  *germanium compound ,  telluride(chalcogenide) ,  antimonide ,  semiconductor thin film ,  *X-ray free electron laser ,  femtosecond laser
Semi thesaurus term： Bragg diffraction ,  *grid deformation ,  time dependence ,  direct determination ,  Powder Diffraction

JST classification (3)： Phase transitions and critical phenomena in general  (BL04010V) ,  Other lasers  (BD04090H) ,  X-ray instruments and techniques  (BA02060D)

Terms in the title (4)： X線自由電子レーザ ,  ピコ秒 ,  格子変形 ,  観測