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J-GLOBAL ID：201402219614638854   Reference number：14A1231747

Phase-shift Extraction from Twice-Normalized Light Intensity Changes Recorded with Random Phase Shifts

ランダム位相シフトで記録された二回正規化光強度変化による位相シフトの抽出

Author (2)： ADACHI Masaaki (Kanazawa Univ., Ishikawa, JPN) ,  SUNADA Satoshi (Kanazawa Univ., Ishikawa, JPN)
Material： Optical Review  (Opt Rev)
Volume： 21  Issue： 5  Page： 522-525  Publication year： Oct. 01, 2014 
JST Material Number： L2272A  ISSN： 1340-6000  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *phase shift ,  interference microscope ,  *interference fringe ,  *optical interferometry ,  phase (topology) ,  optical recording ,  normalization ,  radiant intensity ,  *image analysis ,  pixel ,  positioning device ,  light intensity
Semi thesaurus term： random phase

JST classification (2)： Interferometry and interferometers  (BD07070G) ,  Graphic and image processing in general  (JE04010I)

Reference (9)：

• H. Schreiber and J. H. Bruning: in Optical Shop Testing, ed. D. Malacara (Wiley, Hoboken, NJ, 2007) 3rd ed., Chap. 14, p. 547.
• J. E. Greivenkamp: Opt. Eng. 23 (1984) 350.
• G. Lai and T. Yatagai: J. Opt. Soc. Am. A 8 (1991) 822.
• K. G. Larkin: Opt. Express 9 (2001) 236.
• A. Patil and P. Rastogi: Opt. Lasers Eng. 43 (2005) 475.

Terms in the title (3)： 位相シフト ,  正規化 ,  光強度