Art

J-GLOBAL ID：201402230389964767   Reference number：14A1064876

A method for quantitatively analyzing the angle of direction for arbitral c-axis alignment with retardation measurements

遅延測定による任意のc軸アラインメントでの方位角の定量的な解析法

Author (2)： SHIMOI Norihiro ,  TANAKA Yasumitsu
Material： Optics & Laser Technology  (Opt Laser Technol)
Volume： 65  Page： 189-193  Publication year： Jan. 2015 
JST Material Number： D0245B  ISSN： 0030-3992  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Netherlands (NLD)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： characterization ,  alignment ,  optical element ,  panel ,  liquid crystal ,  thin film growth ,  delay ,  crystal structure ,  high-resolution ,  Lubrication ,  *optical measurement ,  delay characteristic ,  *crystal orientation ,  azimuth angle ,  *azimuth measurement ,  visualization ,  three dimension ,  transverse direction ,  locality
Semi thesaurus term： liquid crystal panel

JST classification (1)： Optical instruments and techniques in general  (BD07010S)

Terms in the title (6)： 遅延 ,  C軸 ,  アラインメント ,  方位角 ,  定量 ,  解析法