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J-GLOBAL ID：201402239845550993   Reference number：14A0126134

Discerning size effect strengthening in ultrafine-grained Mg thin films

超微細粒Mg薄膜におけるサイズ効果強化の識別

Author (6)： SHARON J.a. (Sandia National Laboratories, Albuquerque, NM, USA) ,  SHARON J.a. (The Johns Hopkins Univ., Baltimore, MD, USA) ,  ZHANG Y. (The Johns Hopkins Univ., Baltimore, MD, USA) ,  MOMPIOU F. (CEMES-CNRS & Univ. de Toulouse, Toulouse, FRA) ,  LEGROS M. (CEMES-CNRS & Univ. de Toulouse, Toulouse, FRA) ,  HEMKER K.j. (The Johns Hopkins Univ., Baltimore, MD, USA)
Material： Scripta Materialia  (Scr Mater)
Volume： 75  Page： 10-13  Publication year： Mar. 15, 2014 
JST Material Number： B0915A  ISSN： 1359-6462  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *Magnesium ,  *evaporated film ,  *alloy ,  *tensile test ,  stress strain curve ,  yield strength ,  *formula ,  HCP metal ,  size effect ,  crystal grain size (diameter) ,  *ultrafine grain alloy ,  *Hall-Petch relation ,  dislocation pile-up ,  curve ,  line ,  mechanical property ,  strength
Semi thesaurus term： *Hall-Petch relation ,  dislocation pile-up

JST classification (1)： Mechanical properties  (WB02030U)

Terms in the title (6)： 微細粒 ,  Mg ,  薄膜 ,  サイズ効果 ,  強化 ,  識別