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J-GLOBAL ID：201402242829151966   Reference number：14A1341037

電界イオン顕微鏡における電界吸着原子上の電場強度の定量的評価 II

Author (4)： TOYOIZUMI SHUYA (大阪市大 大学院) ,  YAMADA TACHIKI (大阪市大 大学院) ,  OTA YASUSHI (大阪市大 大学院) ,  KOBAYASHI ATARU (大阪市大 大学院)
Material： 表面科学学術講演会講演要旨集  (表面科学学術講演会要旨集)
Volume： 34th  Page： 19  Publication year： Nov. 06, 2014 
JST Material Number： L1366A  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *field ion microscope ,  *atom ,  field intensity ,  *surface ,  *adsorption ,  ionization potential ,  helium ,  ion
Semi thesaurus term： ionization energy ,  *adatom

JST classification (1)： Microscopy determination of structures  (BK01040E)

Terms in the title (5)： 電界イオン顕微鏡 ,  電界 ,  吸着原子 ,  電場強度 ,  定量的評価