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J-GLOBAL ID：201402242893950597   Reference number：14A0443178

Equilibrium shapes of polycrystalline silicon nanodots

多結晶シリコンナノドットの平衡形状

Author (5)： KORZEC M. D. (Dep. of Mathematics, Technische Universitaet Berlin, Strasse des 17. Juni 136, 10623 Berlin, DEU) ,  ROCZEN M. (Dep. of Physics, Humboldt-Universitaet zu Berlin, Newtonstrasse 15, 12489 Berlin, DEU) ,  SCHADE M. (Zentrum fuer Innovationskompetenz SiLi-nano, Martin-Luther-Universitaet Halle-Wittenberg ...) ,  WAGNER B. (Dep. of Mathematics, Technische Universitaet Berlin, Strasse des 17. Juni 136, 10623 Berlin, DEU) ,  RECH B. (Helmholtz-Zentrum Berlin, Inst. for Silicon Photovoltaics, Kekulestrasse 5, 12489 Berlin, DEU)
Material： Journal of Applied Physics  (Journal of General Physics and its Application to Other Sciences and to Industry)
Volume： 115  Issue： 7  Page： 074304-074304-12  Publication year： Feb. 21, 2014 
JST Material Number： C0266A  ISSN： 0021-8979  CODEN： JAPIAU  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *silicon ,  *nanostructure ,  *polysilicon ,  *morphology (form) ,  *equilibrium ,  topography ,  array ,  transmission electron microscope ,  amorphous silicon ,  surface energy ,  energy density ,  grain boundary ,  bond strength ,  morphology ,  scanning electron microscope ,  optimization ,  mathematical transformation ,  anisotropy ,  *nanodot ,  numerical optimization ,  digitization ,  dewetting ,  modification
Semi thesaurus term： dewetting ,  nano-dot array ,  minimum principle

JST classification (2)： Surface structure of semiconductors  (BK15030A) ,  Semiconductor thin films  (BK14040E)

Terms in the title (2)： 多結晶シリコン ,  ナノドット