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J-GLOBAL ID：201402278261526484   Reference number：13A1954933

表面分析の基礎(4)

Author (1)： YOSHIHARA KAZUHIRO (オミクロンナノテクノロジージャパン)
Material： Journal of the Vacuum Society of Japan  (真空)
Volume： 56  Issue： 4  Page： 153-157  Publication year： Apr. 10, 2013 
JST Material Number： G0194A  ISSN： 1882-2398  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *X-ray photoelectron spectroscopy ,  *principle ,  photoelectron spectrum ,  chemical shift ,  core level ,  band structure ,  Auger effect ,  inelastic scattering
Semi thesaurus term： chemical shift

JST classification (1)： Electron spectroscopy  (BM09060K)

Reference (3)：

• 15) C. C. Kao, S. C. Tsai, M. K. Bahl, Y. W. Chung and W. J. Lo: Surf. Sci., 95 (1980) 1.
• 16) 吉原一紘:入門表面分析(内田老鶴圃,東京,2003) p. 87.
• 17) 吉原一紘,吉武道子:表面分析入門(裳華房,東京,2007) p. 41.

Terms in the title (2)： 表面分析 ,  基礎