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J-GLOBAL ID：201402289076485390   Reference number：14A0122179

Development of high lateral and wide angle resolved hard X-ray photoemission spectroscopy at BL47XU in SPring-8

SPring-8におけるBL47XUでの高方位・広角度分解硬X線光電子分光法の開発

Author (6)： IKENAGA Eiji (SPring-8/JASRI, Hyogo, JPN) ,  SUGIYAMA Takeharu (SPring-8/JASRI, Hyogo, JPN) ,  KOBATA Masaaki (NIMS Beamline Station, Hyogo, JPN) ,  KOBAYASHI Keisuke (NIMS Beamline Station, Hyogo, JPN) ,  MATSUDA Hiroyuki (NAIST, Nara, JPN) ,  DAIMON Hiroshi (NAIST, Nara, JPN)
Material： Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena  (J Electron Spectrosc Relat Phenom)
Volume： 190  Issue： Pt.B  Page： 180-187  Publication year： Oct. 2013 
JST Material Number： D0266C  ISSN： 0368-2048  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Netherlands (NLD)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *synchrotron radiation facility ,  beam line ,  hard X-ray ,  *X-ray photoelectron spectroscopy ,  *angle resolved spectroscopy ,  objective lens ,  electron microscopy ,  depth analysis ,  multistory structure ,  *resolving power ,  *SPring-8 ,  *lateral resolution ,  photoelectron micro-spectroscopy ,  hard X-ray photoelectron spectroscopy
Semi thesaurus term： photoemission electron microscopy ,  HAXPES

JST classification (2)： Electron spectroscopic determination of structures  (BK01050P) ,  Particle accelerators in general and theory  (BE02010M)

Terms in the title (5)： SPring-8 ,  方位 ,  分解 ,  硬X線光電子分光 ,  開発