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J-GLOBAL ID：201402296104340723   Reference number：14A1493735

Development of standards for reliable surface analyses by ISO technical committee 201 on surface chemical analysis

表面化学分析に関するISO技術委員会201による信頼性のある表面分析のための規格開発

Author (4)： POWELL C. J. (Materials Measurement Sci. Div., National Inst. of Standards and Technol., 100 Bureau Drive, Gaithersburg, MD ...) ,  SHIMIZU R. ,  YOSHIHARA K. ,  ICHIMURA S.
Material： Surface and Interface Analysis  (SIA)
Volume： 47  Issue： 1  Page： 127-134  Publication year： Jan. 2015 
JST Material Number： E0709A  ISSN： 0142-2421  CODEN： SIANDQ  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *International Organization for Standardization ,  *surface chemistry ,  *surface analysis ,  *ISO Standard ,  Auger electron spectroscopy ,  glow discharge ,  microscopy ,  secondary ion mass spectrometry ,  depth profile ,  sputtering ,  reflectivity ,  sample preparation
Semi thesaurus term： Microscopy, Scanning Probe ,  X-ray reflectivity

JST classification (2)： Surface structure of solids in general  (BK15010E) ,  Physical analysis in general  (CC03011F)

Terms in the title (5)： 化学分析 ,  ISO ,  表面分析 ,  規格 ,  開発