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J-GLOBAL ID：201403004177226174

周波数測定装置、及び周波数測定方法

Inventor： 川▲崎▼ 和彦 ,  稲場 肇 ,  洪 鋒雷
Applicant, Patent owner： 株式会社ミツトヨ ,  独立行政法人産業技術総合研究所
Agent (1)： 特許業務法人樹之下知的財産事務所
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2013064812
Publication number (International publication number)：2014190759
Application date： Mar. 26, 2013
Publication date： Oct. 06, 2014
Summary：

【課題】簡素な構成で光コムのモード次数を特定し、測定対象のレーザの絶対周波数を測定する周波数計測装置、及び周波数計測方法を提供する。【解決手段】周波数測定装置1は、光周波数コム装置2と、周波数可変で周波数に応じて発振モードが変化するモード移行周波数を有する周波数可変レーザ装置3と、周波数可変レーザの発振モードを観測する発振モード観察部6と、光周波数コムと周波数可変レーザとを干渉させた際の第一ビート周波数、及び測定対象レーザと周波数可変レーザとを干渉させた際の第二ビート周波数を計測するビート周波数測定部7とを備え、周波数可変レーザの周波数を変化させた際の発振モードの観測結果に基づいて、第一ビート周波数を計測する際の光周波数コムのモード次数を特定し、モード次数と、第一ビート周波数及び第二ビート周波数とに基づいて、測定対象レーザ装置の発振周波数を測定する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

光周波数コム装置と、 周波数可変で、かつ、当該周波数に応じて発振モードが高次から低次に、あるいは低次から高次に変化するモード移行周波数を有する周波数可変レーザ装置と、 前記発振モードを観測する手段と、 前記光周波数コム装置と前記周波数可変レーザ装置とからの出力光を干渉させた際に得られる第一ビート周波数を計測する手段と、 測定対象レーザ装置と前記周波数可変レーザ装置とからの出力光を干渉させた際に得られる第二ビート周波数を計測する手段と、を備え、 前記周波数可変レーザ装置の発振周波数を変化させた際の前記発振モードの観測結果に基づいて、前記第一ビート周波数を計測する際の前記光周波数コム装置からの出力光のモード次数を特定し、前記モード次数と、計測された前記第一ビート周波数及び前記第二ビート周波数とに基づいて、前記測定対象レーザ装置の発振周波数を測定する ことを特徴とする周波数測定装置。

IPC (3)：

G01R 23/14 ,  G01J 9/02 ,  H01S 3/00

FI (4)：

G01R23/14 E ,  G01J9/02 ,  H01S3/00 F ,  H01S3/00 G

F-Term (6)：

5F172AD01 ,  5F172NN24 ,  5F172NN25 ,  5F172NP04 ,  5F172NP18 ,  5F172ZZ04