Pat
J-GLOBAL ID:201403005630924275

試料中の標的分析物を定量化するための組成物、方法およびキット

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 特許業務法人川口國際特許事務所
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2014514597
Publication number (International publication number):2014522496
Application date: Jun. 06, 2012
Publication date: Sep. 04, 2014
Summary:
質量分析により標的分析物を定量化する方法は、第1較正物質の第1既知量を含み、第2較正物質の第2既知量を含み、潜在的に標的分析物を含む単一試料からの第1較正物質シグナルを含み、第2較正物質シグナルを含み、潜在的に標的分析物シグナルを含む質量分析器シグナルを得ることを含む。第1既知量と第2既知量は異なり、第1較正物質、第2較正物質および標的分析物は、質量分析により単一試料中でそれぞれ識別可能である。方法は、第1較正物質シグナル、第2較正物質シグナルおよび標的分析物シグナルを使用して、単一試料中の標的分析物を定量化することも含む。
Claim (excerpt):
質量分析により標的分析物を定量化する方法であって、 第1較正物質の第1既知量を含み、第2較正物質の第2既知量を含み、潜在的に標的分析物を含む単一試料からの第1較正物質シグナルを含み、第2較正物質シグナルを含み、潜在的に標的分析物シグナルを含む質量分析器シグナルを得ることであって、 前記第1既知量と前記第2既知量が異なり、前記第1較正物質、前記第2較正物質および前記標的分析物が、質量分析により前記単一試料中でそれぞれ識別可能であること;ならびに 前記第1較正物質シグナル、前記第2較正物質シグナルおよび前記標的分析物シグナルを使用して、前記単一試料中の前記標的分析物を定量化すること を含む、方法。
IPC (4):
G01N 27/62 ,  G01N 30/86 ,  G01N 30/72 ,  G01N 1/00
FI (5):
G01N27/62 D ,  G01N30/86 J ,  G01N30/72 A ,  G01N30/72 C ,  G01N1/00 C
F-Term (9):
2G041CA01 ,  2G041EA04 ,  2G041EA06 ,  2G041LA08 ,  2G052AA28 ,  2G052AA39 ,  2G052AB16 ,  2G052GA24 ,  2G052GA27
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
Show all
Article cited by the Patent:
Return to Previous Page