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J-GLOBAL ID:201403006786950868

非線形光学顕微鏡および非線形光学顕微鏡法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 川口 嘉之 ,  和久田 純一 ,  矢澤 広伸
Gazette classification:再公表公報
Application number (International application number):JP2012052377
Publication number (International publication number):WO2012127907
Application date: Feb. 02, 2012
Publication date: Sep. 27, 2012
Summary:
複数の励起光による非線形光学過程から生じる信号光を測定する非線形光学顕微鏡において、複数の励起光の集光点の重心を所定の周波数で位置変調し、信号光から変調周波数に応じた周波数成分を抽出する。抽出する周波数成分は、変調周波数の偶数倍とすることが好ましい。また、位置変調方法としては、集光点重心を、光軸に垂直な面内で直線状または螺旋状に移動させたり、光軸方向に直線状に移動させたりする方法が好ましい。
Claim (excerpt):
第1の励起光を試料上に集光する第1の光学系と、 第2の励起光を試料上に集光する第2の光学系と、 前記第1の励起光と前記第2の励起光の試料上での集光位置を、所定の変調周波数で相対的に位置変調させる集光位置変調手段と、 試料から生じる信号光から、前記変調周波数に応じた周波数成分を抽出する信号抽出手段と、 を備える非線形光学顕微鏡。
IPC (2):
G02B 21/06 ,  G01N 21/64
FI (2):
G02B21/06 ,  G01N21/64 Z
F-Term (22):
2G043AA03 ,  2G043CA07 ,  2G043DA05 ,  2G043DA06 ,  2G043EA01 ,  2G043EA03 ,  2G043EA04 ,  2G043GA02 ,  2G043GB19 ,  2G043HA07 ,  2G043JA03 ,  2G043KA01 ,  2G043KA02 ,  2G043KA08 ,  2G043KA09 ,  2G043LA02 ,  2H052AA07 ,  2H052AA09 ,  2H052AC05 ,  2H052AC14 ,  2H052AC28 ,  2H052AC34

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