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J-GLOBAL ID：201403026767716553

2軸引張試験方法およびそれに用いられる装置

Inventor： 杉田 修啓 ,  松本 健郎
Applicant, Patent owner： 国立大学法人 名古屋工業大学
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2012280428
Publication number (International publication number)：2014126358
Application date： Dec. 25, 2012
Publication date： Jul. 07, 2014
Summary：

【課題】 軟らかい薄膜状試料の破壊挙動を評価し、観察することができる方法を提供する。【解決手段】 中央部の厚みを周囲の厚みより薄くした軟らかい薄膜状試料に対して2軸引張力を加えつつ、前記中央部に加えられる負荷と変形量を変形測定センサーで計測するとともに、変形状態を画像撮影装置で撮影する。前記負荷と変形量より薄膜状試料の破壊強度等の力学的特性を測定する方法及びシステム。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

試料の2軸引張試験方法において、前記試料として、中央部の厚みを周囲よりも薄くした試料を用い、この試料の中央部に負荷を加えて前記試料の2軸引張試験を行うことを特徴とする2軸引張試験方法。

IPC (2)：

G01N 3/08 ,  G01N 3/40

FI (2)：

G01N3/08 ,  G01N3/40 Z

F-Term (12)：

2G061AA01 ,  2G061AA17 ,  2G061AB01 ,  2G061AB09 ,  2G061CA09 ,  2G061CA10 ,  2G061CB01 ,  2G061CC01 ,  2G061DA01 ,  2G061EA01 ,  2G061EA02 ,  2G061EC02