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J-GLOBAL ID:201403030985517420

分析用基板

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 長谷川 洋
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2012284064
Publication number (International publication number):2014126477
Application date: Dec. 27, 2012
Publication date: Jul. 07, 2014
Summary:
【課題】 検出部の表面処理の生産性を上げ、安価な分析用基板を提供する。 【解決手段】 本発明は、液状物を分析するための分析用基板1であって、その基板1の厚さ方向に貫通若しくは窪む接続部4と、その基板1の一方の表面から接続部4に取り付け可能に構成され、液状物を検出、反応、吸着、脱離もしくは分解する部位となる検出部30とを備える分析用基板1に関する。【選択図】図4
Claim (excerpt):
液状物を分析するための分析用基板であって、 その基板の厚さ方向に貫通若しくは窪む接続部と、 その基板の一方の表面から上記接続部に取り付け可能に構成され、上記液状物を検出、反応、吸着、脱離もしくは分解する部位となる検出部と、を備える分析用基板。
IPC (2):
G01N 35/08 ,  G01N 37/00
FI (2):
G01N35/08 A ,  G01N37/00 101
F-Term (1):
2G058DA07

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