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J-GLOBAL ID：201403034324014044
光ファイバ特性測定装置及び光ファイバ特性測定方法
Inventor：
,
,
Applicant, Patent owner：
Agent (3)：
吉田 正義
, 今枝 弘充
, 梅村 裕明
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2012187003
Publication number (International publication number)：2014044129
Application date： Aug. 27, 2012
Publication date： Mar. 13, 2014
Summary：
【課題】従来よりも空間分解能を向上し得る光ファイバ特性測定装置および光ファイバ特性測定方法を提案する。【解決手段】本発明では、x偏波光に与えられる周波数変調に同期して、強度変調手段により当該x偏波光に対し強度変調をも施すことで、x偏波光の強度を特定の周波数で弱くしたり、または強くしたりすることも可能になり、これによりx偏波光によって形成されるブリルアンダイナミックグレーティングの実効長を調整できる。この結果、ブリルアンダイナミックグレーティングにより反射されて得られるy偏波光の反射スペクトルの形状も最適に調節し得、かくしてy偏波光における空間分解能を向上させることができる。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
周波数変調された光を出力する光源と、
前記光源からの第1偏波光を周波数シフトさせ、偏波保持特性を有した被測定光ファイバの一端からプローブ光として入射させるプローブ光生成手段と、
前記光源からの第1偏波光を、前記被測定光ファイバの他端からポンプ光として入射させるポンプ光生成手段と、
前記光源からの第2偏波光を、前記被測定光ファイバの他端からリード光として入射させるリード光生成手段と、
前記ポンプ光と前記プローブ光とにより前記被測定光ファイバ内に形成されたブリルアンダイナミックグレーティングによって反射される前記リード光の反射スペクトルを検出し、前記被測定光ファイバの特性を測定する測定手段とを備えた光ファイバ特性測定装置であって、
前記第1偏波光に対する周波数変調に同期して、該第1偏波光に強度変調を施す強度変調手段を備える
ことを特徴とする光ファイバ特性測定装置。
IPC (2)：
FI (2)：
G01D5/353 B
, G01M11/00 U
2F103BA37
, 2F103CA04
, 2F103CA07
, 2F103CA09
, 2F103EB02
, 2F103EB17
, 2F103EC09
, 2F103EC10
, 2F103EC13
, 2F103EC14
, 2F103EC16
, 2F103ED01
, 2F103FA02
, 2G086DD04
, 2G086DD05
