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J-GLOBAL ID：201403036320494346

試料配列の自己対照型検出及び撮像のためのシステム及び方法

Inventor： 山田雅子 ,  マイティ,サンディップ ,  ヴァータック,サミール・ディンカール ,  ランゴジュ,ラジェッシュ ,  パティル,アビジット
Applicant, Patent owner： ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ
Agent (3)： 荒川 聡志 ,  小倉 博 ,  黒川 俊久
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2014533246
Publication number (International publication number)：2014531595
Application date： Sep. 28, 2012
Publication date： Nov. 27, 2014
Summary：

検出可能な試料及び1以上の対照試料を有する試料の配列を検出するためのシステムが提供される。このシステムは、電磁放射線源と、1以上の対照フィールドを含む複数の試料フィールドを含む検知表面と、試料の配列中の1以上の試料の経路長の差を導入するように構成された位相差生成器と、試料の配列中の1以上の試料を撮像するように構成された撮像分光計とを含む。【選択図】図2

Claim (excerpt)：

検出可能な試料及び1以上の対照試料を有する試料の配列を検出するためのシステムであって、 電磁放射線源と、 1以上の対照フィールドを含む複数の試料フィールドを含む検知表面と、 試料の前記配列中の1以上の試料の経路長の差を導入するように構成された位相差生成器と、 試料の前記配列中の1以上の試料を撮像するように構成された撮像分光計と を含む、システム。

IPC (2)：

G01N 21/41 ,  G01N 21/27

FI (3)：

G01N21/41 101 ,  G01N21/41 102 ,  G01N21/27 F

F-Term (18)：

2G059AA01 ,  2G059BB01 ,  2G059BB04 ,  2G059DD12 ,  2G059DD13 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059FF01 ,  2G059GG02 ,  2G059GG10 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ12 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ14 ,  2G059JJ17 ,  2G059KK04

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• The specific molecular identification of life experiment (SMILE)