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J-GLOBAL ID:201403040562454982

構造物の欠陥探査方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 森 哲也 ,  小西 恵 ,  廣瀬 一
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2013107266
Publication number (International publication number):2014228349
Application date: May. 21, 2013
Publication date: Dec. 08, 2014
Summary:
【課題】構造物に生じる欠陥を容易かつ迅速に非破壊検査できる構造物の欠陥探査方法を提供する。【解決手段】特定周波数の電磁波を吸収する電磁波吸収体を構造物31に被覆し、電磁波吸収体の被覆部40に特定周波数の電磁波を照射し、電磁波吸収体の被覆部40から反射された特定周波数の電磁波の強度の違いを計測することにより構造物31の欠陥の有無を判定する。【選択図】図1
Claim (excerpt):
特定周波数の電磁波を吸収する電磁波吸収体を構造物に被覆し、前記電磁波吸収体の被覆部に向けて前記特定周波数の電磁波を照射し、前記電磁波吸収体の被覆部から反射または透過された前記特定周波数の電磁波の強度の違いを計測することにより前記構造物の欠陥の有無を判定することを特徴とする構造物の欠陥探査方法。
IPC (2):
G01N 22/02 ,  G01N 22/00
FI (4):
G01N22/02 A ,  G01N22/00 U ,  G01N22/00 P ,  G01N22/00 L

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