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J-GLOBAL ID：201403044000174249

光学的植生指数センサ

Inventor： 久米 篤
Applicant, Patent owner： 国立大学法人九州大学
Agent (3)： 酒井 宏明 ,  南 尋之 ,  中嶋 裕昭
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2010028734
Publication number (International publication number)：2011133451
Patent number：5410323
Application date： Feb. 12, 2010
Publication date： Jul. 07, 2011
Claim (excerpt)：

【請求項1】葉又は葉群を透過した透過放射を受光すると、400nm〜700nmの可視放射領域の放射に対して補正フィルタにより光量子束密度で測定するための分光特性の補正を行い、補正後の放射を受光部で光電変換することによって光合成有効放射度または光合成光量子束密度の何れかを示すPAR出力として出力する第1放射センサと、 受光した放射に対してバンドパスフィルタにより700nm〜1000nmの赤外放射領域のみの放射を取出し、この放射を受光部で光電変換することによって前記PAR出力と共通する単位の放射度または光量子束密度の何れかを示すIR出力を出力できる第2放射センサと、 前記PAR出力と前記IR出力を時間と共に積算し、前記IR出力の積算値を前記PAR出力の積算値で割って比を算出し、該比に対応した葉面積指数を求める演算部を備えたことを特徴とする光学的植生指数センサ。

IPC (3)：

G01N 21/27 ( 200 6.01) ,  A01G 7/00 ( 200 6.01) ,  G01B 11/28 ( 200 6.01)

FI (3)：

G01N 21/27 Z ,  A01G 7/00 603 ,  G01B 11/28 Z