能動計量学習装置、能動計量学習方法および能動計量学習プログラム

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：高橋勇
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2010540476
Patent number：5477297
Application date： Nov. 24, 2009
Claim (excerpt)：

【請求項1】分析対象データ間の距離について計算および分析を行う計量適用データ分析部と、前記分析対象データ間の相関および属性を最適化してその最適化された計量行列を出力する計量最適化部と、前記最適化された計量行列を前記属性に応じてクラスタリングする属性クラスタリング部とからなり、複数の属性を有する分析対象データをクラスタリングする能動計量学習装置であって、前記計量適用データ分析部が、前記分析対象データと該データ間の距離を表すマハラノビス計量行列を入力として前記分析対象データ間の距離を計算する計量適用手段と、前記分析対象データ間の距離を用いて所定の関数によりデータを分析しデータ分析結果を出力するデータ分析手段と、前記データ分析結果を保存する分析結果記憶手段と、前記計量適用手段および前記データ分析手段に対して前記最適化を行う前のもとの計量行列を近似して構造化された計量行列を入力する計量行列構造化部から構成され、前記計量最適化部が、前記分析対象データ間の相関および属性のいずれかまたは組み合わせからなるユーザからのフィードバック指示からサイド情報を生成するフィードバック変換手段と、前記生成されたサイド情報から所定の条件に基づいて最適化された計量行列を生成する計量学習手段とから構成され、前記属性に関するユーザからのフィードバック指示が、前記分析対象データ間で同一クラスタに属するべきものについての情報と前記分析対象データの粒度についての情報とを含み、前記サイド情報が、前記分析対象データの中で同一ペアとなる2点のデータについての情報であるペア情報と、前記分析対象データの中で同一グループとなる2点以上のデータについての情報であるグループ情報とを含み、前記属性クラスタリング部が、前記計量最適化部によって最適化された計量行列を前記属性に応じてクラスタリングすることを特徴とする能動計量学習装置。

IPC (2)：

G06N 3/00 ( 200 6.01) , G06F 17/30 ( 200 6.01)

FI (3)：

G06N 3/00 560 A , G06F 17/30 210 D , G06F 17/30 220 Z

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

データ検索方法及びコンピュータプログラム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2004-210243 Applicant：株式会社国際電気通信基礎技術研究所

Cited by examiner (1)

データ検索方法及びコンピュータプログラム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2004-210243 Applicant：株式会社国際電気通信基礎技術研究所

Article cited by the Patent：

Cited by applicant (4)

計量学習を用いたユーザー意図学習システム
Semi-Supervised Learning Literature Survey
Efficiently Learning the Metric with Side-Information

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Efficiently Learning the Metric with Side-Information

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