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J-GLOBAL ID:201403050984576857

熱物性測定装置および熱物性測定方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 小谷 悦司 ,  小谷 昌崇 ,  櫻井 智
Gazette classification:特許公報
Application number (International application number):2011054990
Publication number (International publication number):2012189525
Patent number:5512577
Application date: Mar. 14, 2011
Publication date: Oct. 04, 2012
Claim (excerpt):
【請求項1】 測定対象の試料を加熱するために、互いに照射径の異なる複数の加熱光を前記試料にそれぞれ照射する、前記照射径ごとに専用に用意され前記各照射径をそれぞれ固定した複数の加熱用照射部と、 前記測定対象の試料に所定の検出光を照射する検出光照射部と、 前記測定対象の試料で反射された前記検出光の反射光を検出する反射光検出部と、 前記反射光検出部で検出された、前記複数の加熱光のそれぞれに対応する複数の検出結果に基づいて前記試料の熱物性値を求める熱物性演算部とを備えること を特徴とする熱物性測定装置。
IPC (1):
G01N 25/18 ( 200 6.01)
FI (1):
G01N 25/18 H
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
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