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J-GLOBAL ID：201403074764453858

検査装置及び検査方法

Inventor： 山田 英一郎 ,  木村 彰紀
Applicant, Patent owner： 住友電気工業株式会社
Agent (3)： 長谷川 芳樹 ,  黒木 義樹 ,  ▲高▼木 邦夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2013092784
Publication number (International publication number)：2014215177
Application date： Apr. 25, 2013
Publication date： Nov. 17, 2014
Summary：

【課題】より高い精度で異種品や不良品の検出を行う。【解決手段】検査装置100及びこの検査装置100を用いた検査方法によれば、分析ユニット30において、まず、検出ユニット20において取得された各画素のスペクトルデータから、検査対象物を撮像した対象画素を抽出し、さらに、同一の検査対象物を撮像した複数の対象画素のスペクトルデータを予めグループ化して、グループ化した対象物スペクトルを用いて検査対象物の分類が行われる。したがって、同一の検査対象物を撮像した複数の対象画素のスペクトルデータを用いて検査対象物の分類を行うことから、特定の画素に含まれるノイズ等に由来する誤判定の可能性を低減することができ、より高い精度で異種品や不良品の検出を行うことが可能となる。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

近赤外光を撮像領域に対して出射する光源と、 前記光源からの前記近赤外光を照射されることで前記撮像領域から出射される光を入射して分光する分光手段と、 前記分光手段によって分光された光の分光画像を撮像し、画素毎のスペクトルデータを出力する撮像手段と、 前記撮像手段によって出力された前記画素毎のスペクトルデータに基づいて解析対象となる画素である対象画素を抽出する画素抽出手段と、 前記画素抽出手段によって抽出された前記対象画素を近接する複数の画素毎にグループ化し、グループ化された対象画素のスペクトルデータに基づいて検査対象物のスペクトルを算出するスペクトル算出手段と、 前記スペクトル算出手段によって算出されたスペクトルに基づいて、検査対象物を分類する分類手段と、 を備えることを特徴とする検査装置。

IPC (3)：

G01N 21/85 ,  G01N 21/359 ,  G01N 21/27

FI (3)：

G01N21/85 A ,  G01N21/35 107 ,  G01N21/27 A

F-Term (26)：

2G051AA02 ,  2G051AA03 ,  2G051BA06 ,  2G051BB01 ,  2G051CA04 ,  2G051CB01 ,  2G051CC07 ,  2G051CC09 ,  2G051DA06 ,  2G051DA11 ,  2G051EA17 ,  2G051EA25 ,  2G051ED11 ,  2G059AA01 ,  2G059BB08 ,  2G059DD12 ,  2G059EE02 ,  2G059FF01 ,  2G059GG10 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ01 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ17 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 検出装置及び検出方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2010-246599   Applicant：住友電気工業株式会社