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J-GLOBAL ID：201403088572778738

分析システム

Inventor： 佐竹 宏之 ,  橋本 雄一郎 ,  管 正男 ,  長谷川 英樹
Applicant, Patent owner： 株式会社日立ハイテクノロジーズ
Agent (3)： 平木 祐輔 ,  関谷 三男 ,  渡辺 敏章
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2013084950
Publication number (International publication number)：2014206497
Application date： Apr. 15, 2013
Publication date： Oct. 30, 2014
Summary：

【課題】本発明の目的は、イオンモビリティー装置において、高スループットに分析する技術を提供することにある。【解決手段】分析システムは、質量分析結果情報とイオン移動度分離に関する分析条件とが関連付けられている第1の情報を格納する記憶部と、ある測定対象イオンの質量分析結果情報に対応する前記第1の情報の前記質量分析結果情報に関連付けられた前記分析条件を、前記測定対象イオンの第1の分析条件として決定する制御部と、を備える。【選択図】図4

Claim (excerpt)：

質量分析結果情報とイオン移動度分離に関する分析条件とが関連付けられている第1の情報を格納する記憶部と、 ある測定対象イオンの質量分析結果情報に対応する前記第1の情報の前記質量分析結果情報に関連付けられた前記分析条件を、前記測定対象イオンの第1の分析条件として決定する制御部と、 を備えることを特徴とする分析システム。

IPC (4)：

G01N 27/62 ,  G01N 27/60 ,  G01N 30/72 ,  G01N 30/86

FI (5)：

G01N27/62 X ,  G01N27/62 V ,  G01N27/60 D ,  G01N30/72 C ,  G01N30/86 G

F-Term (18)：

2G041CA01 ,  2G041CA02 ,  2G041EA04 ,  2G041FA22 ,  2G041FA23 ,  2G041GA02 ,  2G041GA03 ,  2G041GA05 ,  2G041GA06 ,  2G041GA08 ,  2G041GA09 ,  2G041GA13 ,  2G041GA24 ,  2G041HA01 ,  2G041HA03 ,  2G041KA01 ,  2G041LA06 ,  2G041MA05