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J-GLOBAL ID：201403095965435910

タイヤ解析システムおよび解析方法

Inventor：
宮澤 昌志

About 宮澤 昌志

, 
花田 亮治

About 花田 亮治


Applicant, Patent owner：
横浜ゴム株式会社

About 横浜ゴム株式会社


Agent (2)： 酒井 宏明 ,  高村 順
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2012288364
Publication number (International publication number)：2014130084
Application date： Dec. 28, 2012
Publication date： Jul. 10, 2014
Summary：
【課題】高精度な解析を実現できるタイヤ解析システムおよび解析方法を提供する。【解決手段】解析方法は、タイヤに付された複数の格子パターンのそれぞれが所定の位置にあるときの画像を撮影するステップST2と、撮影された画像を用いて形状解析を行うことにより格子パターンの空間座標を算出するステップST7と、空間座標に基づいて格子パターンの配置のバラツキを検出するステップと、バラツキに基づいて格子パターンの配置を補正するステップST8とを備える。【選択図】図4
Claim (excerpt)：
タイヤに付された複数の格子パターンのそれぞれが所定の位置にあるときの画像を撮影する撮像部と、 前記撮像部によって撮影された画像を用いて形状解析を行うことにより前記格子パターンの空間座標を算出する空間座標算出部と、 前記空間座標に基づいて前記格子パターンの配置のバラツキを検出するバラツキ検出部と、 前記バラツキに基づいて前記格子パターンの配置を補正する補正部と、 を備える解析システム。
IPC (4)：
G01B 11/245 ,  G01M 17/02 ,  G01B 11/25 ,  B60C 19/00
FI (4)：
G01B11/245 H ,  G01M17/02 B ,  G01B11/25 H ,  B60C19/00 H
F-Term (14)：
2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065BB16 ,  2F065CC13 ,  2F065FF05 ,  2F065FF06 ,  2F065FF09 ,  2F065FF42 ,  2F065HH12 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ08 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL41 ,  2F065QQ16
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (5)
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