Pat

J-GLOBAL ID：201403096069848586

欠陥検出装置、欠陥検出方法および欠陥検出プログラム

Inventor： 吉田 光志 ,  天野 敏之
Applicant, Patent owner： オムロン株式会社
Agent (7)： 深見 久郎 ,  森田 俊雄 ,  仲村 義平 ,  堀井 豊 ,  野田 久登 ,  酒井 將行 ,  荒川 伸夫
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2009048114
Publication number (International publication number)：2010203845
Patent number：5359377
Application date： Mar. 02, 2009
Publication date： Sep. 16, 2010
Claim (excerpt)：

【請求項1】 欠陥を含まない学習画像から取得された学習結果に基づいて検査画像における欠陥を検出する欠陥検出装置であって、 前記検査画像に設定された第1の評価領域を包含し、かつ互いに大きさの異なる複数の部分領域それぞれの画像情報を抽出する手段と、 前記検査画像から抽出される前記画像情報の各々から、前記部分領域の大きさ毎に検査画像ベクトルを生成する手段と、 前記部分領域の大きさ毎の検査画像ベクトルの各々について、対応の固有空間との間の距離を算出する手段と、 予め定められた判別関数を参照して、前記部分領域の大きさ毎の前記距離を要素とする第1の応答ベクトルに基づいて、前記第1の評価領域における欠陥の有無を判断する手段とを備える、欠陥検出装置。

IPC (1)：

G01N 21/88 ( 200 6.01)

FI (1)：

G01N 21/88 J

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

• 画像処理装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-078462   Applicant：三菱電機株式会社
• 回路部品の接続状態検出方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-132271   Applicant：山武ハネウエル株式会社
• 部品の接続良否検査方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-216745   Applicant：株式会社山武