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J-GLOBAL ID:201501079005874131   Update date: Oct. 07, 2021

YAMAZAKI Hiroshi

ヤマザキ ヒロシ | YAMAZAKI Hiroshi
Affiliation and department:
MISC (5):
Lectures and oral presentations  (57):
  • コントローラの遷移故障検出率向上のためのコントローラ拡大法
    (組込み技術とネットワークに関するワークショップ ETNET2021 2021)
  • RTLハードウェア要素のテストスケジューリング情報を用いた多重目標故障テスト生成法
    (ディペンダブルコンピューティング研究会 2021)
  • A Test Sensitization State Compaction Method on Controller Augmentation
    (26th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design 2020)
  • パーシャルMAX-SATを用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法
    (VLSI設計技術研究会 2020)
  • n入力マルチプレクサのテスト不能故障数削減のためのコントローラ拡大法
    (ディペンダブルコンピューティング研究会 2020)
more...
Committee career (1):
  • 2017/04 - 2021/03 一般社団法人 情報処理学会 システムとLSIの設計技術研究運営委員会
Awards (3):
  • 2020/11 - The 20th IEEE Workshop on RLT and High Level Testing Best Paper Award A Don't Care Identification-Filling Co-Optimization Method for Low Capture Power Testing Using Partial MaxSAT
  • 2020/03 - 一般社団法人 情報処理学会 山下記念研究賞 最大充足化問題を用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法
  • 2017/11 - 電子情報通信学会 第4回研究会若手優秀講演賞 拡張シフトレジスタを用いた強セキュア回路設計法
※ Researcher’s information displayed in J-GLOBAL is based on the information registered in researchmap. For details, see here.

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