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J-GLOBAL ID：201502205657830233   Reference number：15A1330270

Band gap tuning of Ni_1-xMg_xO films by radio-frequency sputter deposition for deep-ultraviolet photodetectors

深紫外線光検出器用のNi_1-xMg_xO薄膜に関するラジオ周波数スパッタ蒸着によるバンドギャップ同調

Author (9)： NISHITANI Hiroki (Kansai Univ., Osaka, JPN) ,  OHTA Kohei (Kansai Univ., Osaka, JPN) ,  KITANO Sosuke (Kansai Univ., Osaka, JPN) ,  HAMANO Ryosuke (Kansai Univ., Osaka, JPN) ,  INADA Mitsuru (Kansai Univ., Osaka, JPN) ,  SHIMIZU Tomohiro (Kansai Univ., Osaka, JPN) ,  SHINGUBARA Shoso (Kansai Univ., Osaka, JPN) ,  KOZUKA Hiromitsu (Kansai Univ., Osaka, JPN) ,  SAITOH Tadashi (Kansai Univ., Osaka, JPN)
Material： Applied Physics Express  (APEX)
Volume： 8  Issue： 10  Page： 105801.1-105801.3  Publication year： Oct. 2015 
JST Material Number： F0599C  ISSN： 1882-0778  CODEN： APEPC4  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *ultraviolet detector ,  ultraviolet radiation ,  *sputtered deposition ,  *nickel oxide ,  doping ,  Magnesium ,  substitutional solid solution ,  lattice constant ,  X-Ray Diffraction ,  RF sputtering ,  *thin film ,  band gap ,  concentration dependence ,  sensitivity (ratio) ,  target ,  Nickel ,  chip ,  oxide thin film ,  deep UV

JST classification (2)： Photometry and photodetectors in general  (BD07031F) ,  Oxide thin films  (BK14050P)

Reference (30)：

• M. R. Luettgen, I. H. Shapiro, and D. M. Reilly, J. Opt. Soc. Am. A 8, 1964 (1991).
• Z. Xu and B. M. Sadler, IEEE Commun. Mag. 46, 67 (2008).
• G. Chen, F. Abou-Galala, Z. Xu, and B. M. Sadler, Opt. Express 16, 15059 (2008).
• Web [http://www.hamamatsu.com/eu/en/product/category/3100/3007/index.html].
• T. Tut, N. Biyikli, I. Kimukin, T. Kartaloglu, O. Aytur, M. S. Unlu, and E. Ozbay, Solid-State Electron. 49, 117 (2005).

Terms in the title (7)： 深紫外線 ,  光検出器 ,  薄膜 ,  ラジオ ,  スパッタ蒸着 ,  バンドギャップ ,  同調