Art

J-GLOBAL ID：201502207922421858   Reference number：15A1356638

Fabrication of a double-tapered probe with enhanced aspect ratio for near-field scanning optical microscopy

近接場走査光学顕微鏡法用の増強アスペクト比をもつ二重テーパプローブの作製

Author (1)： MONONOBE Shuji (Toyo Univ., 2100 Kujirai, 3508585, Kawagoe-shi, Saitama-ken, JPN)
Material： Applied Physics. A. Materials Science & Processing  (Applied Physics. A. Solids and Surfaces)
Volume： 121  Issue： 4  Page： 1365-1368  Publication year： Dec. 2015 
JST Material Number： D0256C  ISSN： 0947-8396  CODEN： APHYCC  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Germany, Federal Republic of (DEU)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *scanning probe microscope ,  *scanning optical microscope ,  *near field (optics) ,  *optical probe ,  taper structure ,  *aspect ratio ,  *single mode fiber ,  silicon dioxide ,  Germanium ,  fluorine ,  doping ,  Chlorine ,  *taper machining ,  dual structure ,  *near field optical microscope
Semi thesaurus term： *near-field scanning optical microscope

JST classification (3)： Optical instruments and techniques in general  (BD07010S) ,  Optical waveguide,optical fibers,and fiber optics  (BD06030H) ,  Manufacturing technology of solid-state devices  (NC03030V)

Terms in the title (4)： 近接場走査光学顕微鏡 ,  増強 ,  アスペクト比 ,  作製