Art

J-GLOBAL ID：201502207965218266   Reference number：15A0805215

State-Selective Differential Cross Section Measurements for the One-Electron Capture Process in C³⁺-He and C³⁺-Ne Systems at E_lab=33eV

E_lab=33eVでのC³⁺-He及びC³⁺-Neにおける一電子捕獲過程に対する状態選択微分散乱断面積測定

Author (1)： ITOH Yoh (Josai Univ., Saitama, JPN)
Material： Journal of the Physical Society of Japan  (JPSJ)
Volume： 84  Issue： 6  Page： 064301.1-064301.6  Publication year： Jun. 15, 2015 
JST Material Number： G0509A  ISSN： 0031-9015  CODEN： JUPSA  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *electron capture ,  *differential cross section ,  calculation ,  *analysis
Semi thesaurus term： *nuclear electron capture ,  ab initio calculation ,  *trajectory analysis

JST classification (1)： Lepton-induced reactions and scattering  (BG04030C)

Reference (22)：

• Y. Itoh, J. Phys. B 44, 175202 (2011) [Erratum 44, 239601 (2011)].
• K. Ishii, A. Itoh, and K. Okuno, Phys. Rev. A 70, 042716 (2004).
• N. Shimakura, S. Yamada, S. Suzuki, and M. Kimura, Phys. Rev. A 51, 2989 (1995).
• M. C. Bacchus-Montabonel, Phys. Rev. A 36, 1994 (1987).
• Y. Itoh, J. Phys. Soc. Jpn. 83, 075001 (2014).

Terms in the title (5)： He ,  Ne ,  電子捕獲 ,  過程 ,  状態選択