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J-GLOBAL ID：201502209342517699   Reference number：15A0922343

Surface Processing of CdTe Detectors Using Hydrogen Bromide-Based Etching Solution

臭化水素系エッチング溶液を使用したCdTe検出器の表面処理

Author (11)： NIRAULA M. (Nagoya Inst. Technol., Nagoya, JPN) ,  YASUDA K. (Nagoya Inst. Technol., Nagoya, JPN) ,  TAKAI N. (Nagoya Inst. Technol., Nagoya, JPN) ,  MATSUMOTO M. (Nagoya Inst. Technol., Nagoya, JPN) ,  SUZUKI Y. (Nagoya Inst. Technol., Nagoya, JPN) ,  TSUKAMOTO Y. (Nagoya Inst. Technol., Nagoya, JPN) ,  ITO Y. (Nagoya Inst. Technol., Nagoya, JPN) ,  SUGIMOTO S. (Nagoya Inst. Technol., Nagoya, JPN) ,  KOUNO S. (Nagoya Inst. Technol., Nagoya, JPN) ,  YAMAZAKI D. (Nagoya Inst. Technol., Nagoya, JPN) ,  AGATA Y. (Nagoya Inst. Technol., Nagoya, JPN)
Material： IEEE Electron Device Letters  (IEEE Electron Device Lett)
Volume： 36  Issue： 8  Page： 856-858  Publication year： Aug. 2015 
JST Material Number： B0344B  ISSN： 0741-3106  CODEN： EDLEDZ  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *hydrogen bromide ,  etching solution ,  *cadmium telluride ,  leakage current ,  *radiation detector ,  sensitivity (ratio) ,  performance ,  ability ,  state ,  chemical property ,  surface treatment ,  chemical state ,  detectability
Semi thesaurus term： CdTe ,  etching solution ,  chemical state ,  detection performance

JST classification (1)： Radiation detection and detectors  (AD08020J)

Terms in the title (5)： 臭化水素 ,  エッチング溶液 ,  CdTe ,  検出器 ,  表面処理